FLUKE1537絕緣電阻測(cè)試儀新品登場(chǎng)
Fluke 1537 2500V絕緣電阻測(cè)試儀繼承了絕緣家族的所有優(yōu)點(diǎn)，又更進(jìn)一步！
為什么就比別人多了一點(diǎn)點(diǎn)？福祿克新推出的2500V絕緣測(cè)試儀Fluke 1537，為什么就比同類產(chǎn)品多了一個(gè)DD（介質(zhì)放電率）的測(cè)試呢首先給大家普及一下什么叫介質(zhì)放電率，其實(shí)就是絕緣放電測(cè)試，也叫再吸收電流測(cè)試，是通過(guò)測(cè)量被測(cè)設(shè)備上絕緣體放電電流的一種方法。
介質(zhì)放電率測(cè)試在評(píng)估絕緣狀況時(shí)
非常有用！
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（重要的事情說(shuō)三遍）
電氣設(shè)備中的絕緣材料理論上是不導(dǎo)電的，但實(shí)際是….并不是**不導(dǎo)電。在直流電壓作用下，絕緣材料中的電介質(zhì)中有微弱的電流流過(guò)。由于電介質(zhì)材料的性質(zhì)、構(gòu)成和結(jié)構(gòu)的不同，會(huì)產(chǎn)生三部分的電流：
i1：電容電流（電容充電引起）
i2：吸收電流（不均勻介質(zhì)中由緩慢極化和夾層極化產(chǎn)生）
i3：泄漏電流（絕緣**造成）
當(dāng)多層次絕緣體其中一層損壞或者污染時(shí)，絕緣放電測(cè)試可以確定過(guò)量的放電電流事故。使用PI和DAR測(cè)試，一個(gè)絕緣缺陷可能被忽略。如果絕緣層中的一層受損了，由于給定的電壓和電容，放電電流可能比較大。個(gè)別層次的時(shí)間常數(shù)將不再匹配其他層次，比起一個(gè)損壞的絕緣體將導(dǎo)致一個(gè)更高的電流值。介質(zhì)放電率就是在絕緣測(cè)試停止加壓后，測(cè)量一分鐘內(nèi)的介質(zhì)釋放的電流。它的大小取決于測(cè)試回路中的電容和絕緣測(cè)試的終止電壓。
絕緣層均質(zhì)的絕緣體的DD值將接近于零，而可接受的多層次絕緣體的*大DD數(shù)值不超過(guò)2。
Fluke 1537 2500V絕緣電阻測(cè)試儀繼承了絕緣家族的所有優(yōu)點(diǎn)，又更進(jìn)一步！猶如iPhone X，價(jià)格雖然有點(diǎn)高冷，性能是*優(yōu)的！更何況，**是必須品呢~~